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品牌 | Nikon/日本尼康 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 医疗卫生,电子/电池,航空航天,制药/生物制药,汽车及零部件 |
XYZ量程 | 650x550x200 mm | 最小读数值 | 0.01 nm |
激光AF重复精度1),3) | 2 0≤ 0.5 μm | 产品电源 | AC100 V-240 V |
尼康高精度影像测量系统(如NEXIV系列)是工业制造领域的高精度测量解决方案,集成光学、机械、软件技术,实现非接触式三维测量。以下从核心优势、技术特性、工业应用案例三方面解析:
一、核心优势
1.微米级测量精度
精度范围:±(3 + L/200)μm(L为测量长度,单位mm),适应微小零件到大型工件的测量需求。
重复精度:±1μm,确保多批次测量结果一致性,提升质量管控可靠性。
2.复杂结构测量能力
激光自动对焦:TTL激光技术穿透透明材料(如LCD保护膜),检测厚度低至0.1mm的样品。
3D轮廓扫描:支持复杂曲面、深孔及阶梯结构的测量,长工作距离(73.5mm)避免碰撞。
3.高效测量流程
多档变焦:0.35×至120×倍率切换,覆盖宏观视野与微米级细节。
智能软件:AutoMeasureEyes支持一键式编程、CAD导入及SPC分析,简化操作。
二、技术特性
1.光学系统
高分辨率镜头:复消色差物镜(数值孔径0.11)提供清晰锐利的图像。
环形照明:8段LED光源可调角度(18°-50°),优化不同材质反光效果。
2.机械结构
大行程载物台:型号如VMA-6555支持650mm×550mm×200mm测量范围。
防抖设计:减少高倍率下的振动干扰,确保测量稳定性。
3.软件功能
景深扩展(EDF):多焦点图像合成,提升全视野清晰度。
数据共享:支持测量报告导出,兼容多种格式(如Excel、PDF)。
三、工业应用案例
1.半导体制造
晶圆检测:NEXIV VMF-K系列采用共焦光学系统,同步测量二维尺寸与高度,吞吐量提升1.5倍。
优良封装:检测基板、探针卡的微米级公差,支持半导体器件小型化趋势。
2.汽车引擎生产
Roush Yates Engines案例:采用iNEXIV VMA-4540测量推杆、缸盖垫片,检查时间缩短50%,工时减少97%。
复杂零件测量:锥形零件、深孔结构的一站式检测,替代传统多设备组合方案。
3.电子元件质检
PCB检测:自动测量0.02mm孔洞直径与位置,管控蚀刻工艺精度。
模具验证:三维扫描注塑模具型腔,确保尺寸符合公差要求。
4.航空航天
涡轮叶片检测:测量复杂曲面轮廓,验证空气动力学设计。
复合材料分析:无损检测分层缺陷,支持材料研发与质量控制。
四、行业价值
质量提升:通过高精度测量减少不合格品率,如汽车电子元件的尺寸合规性管控。
效率优化:自动化测量流程缩短检测周期,如半导体晶圆检测吞吐量提升。
成本降低:减少人工操作依赖,降低因测量误差导致的废料成本。
尼康高精度影像测量系统该系统为工业4.0背景下的智能质检提供了核心技术支持,适用于对精度、效率要求严苛的制造场景。
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