徕卡DM750 P偏光显微镜观察塑料切片晶粒度片

使用徕卡 DM750 P 偏光显微镜观察塑料切片晶粒度，可参考以下方法：

样品准备

切片制备：使用超薄切片机将塑料样品切成厚度适宜的薄片，一般在 10 - 50 微米左右，以保证光线能够透过。如果样品是块状，需要先进行镶嵌，例如使用环氧树脂等材料将其固定，便于切片。

表面处理：切片完成后，可对切片表面进行抛光处理，以减少表面粗糙度对观察的影响。可以使用金相砂纸进行逐级打磨，然后用抛光布和抛光液进行精细抛光。

显微镜设置

光源调整：开启内置 LED 光源，将亮度调节至 10%-20%，既能保护人眼，又能减少光漂白和对样品的热损伤。

偏光设置：旋转起偏器至 0°，检偏器至 90°，处于正交偏光状态。此时观察空白载玻片，应呈现全暗，以验证偏光的正交性。

物镜选择：根据塑料切片的特性和观察需求选择合适的物镜。2.5 倍概览物镜可用于快速定位晶区分布；10 - 40 倍物镜适合观察晶体的形态、大小及团聚状态；63 倍油镜则可用于解析晶体边缘的细节，如晶面夹角、解理纹等。

观察与分析

消光现象观察：旋转载物台 0 - 360°，观察塑料晶体的消光现象。各向异性的塑料晶体每转 90° 会出现一次消光，这是判断晶体类型和取向的重要依据。

干涉色分析：根据晶体厚度和双折射率，塑料晶体会呈现出不同的干涉色。可结合石膏试板（λ = 550nm）定量双折射值，从而进一步分析晶体的结构和性能。

晶体形态与尺寸测量：记录晶体的形态，如球晶、片晶等，并通过徕卡 LAS X 软件测量晶体的等效圆直径、长宽比等参数，统计晶粒度分布。

动态观察（如有需要）：如果研究涉及到塑料结晶过程或晶相转变等动态变化，可以开启延时摄影功能，设定合适的拍摄间隔，记录晶体的生长、变化过程。

注意事项

避免高温制片，防止塑料晶型转变，影响观察结果。

对于厚晶体（＞100μm），使用 λ/4 波片补偿光程，避免高阶干涉色重叠，以便更清晰地观察晶体结构。

操作过程中要保持载物台和样品的清洁，避免灰尘等杂质影响观察效果。同时，要轻拿轻放样品和载玻片，防止损坏物镜和载物台。